原子力顯微鏡

Atomic Force Microscope

型號：德國Bruker Dimension ICON

功能：用于表征材料表面形貌特征。

技術(shù)參數(shù)：

﹡XY方向掃描范圍：90μm×90μm

﹡Z方向掃描范圍：14μm

﹡具備多種成像模式，包括閉環(huán)模式、智能模式、接觸模式、輕敲模式。

﹡功能附件：磁力顯微鏡、側(cè)向力顯微鏡、調(diào)頻和高壓開爾文探針顯微鏡。

Model: Bruker Dimension ICON

Function: Used to characterize the surface morphology of materials.

Technical Parameters:

﹡X-Y scan range: 90μm x 90μm typical

﹡Z range: 14μm typical in imaging and force curve modes

﹡AFM modes: close-loop mode, smart imaging mode, tapping mode, contact mode.

﹡Accessories: Magnetic Force Microscopy, Lateral force microscopy, Frequency modulation and High-voltage Kelvin Probe Force Microscopy .