電學(xué)探針臺(tái)Probe Station 型號(hào):儀準(zhǔn)PW-800功能:通過微探針連接到芯片并引出所需信號(hào),用于電學(xué)特性測(cè)試。技術(shù)參數(shù):﹡夾盤尺寸:200mm﹡探針XY電動(dòng)移動(dòng)行程:200mm﹡顯
半導(dǎo)體參數(shù)分析儀Semiconductor Parameter Analyzer 型號(hào):美國Tektronix Keithley 4200A-SCS功能:使用4200A-SCS加快半導(dǎo)體設(shè)備
工業(yè)顯微鏡Industrial Microscope 型號(hào):日本尼康LV100ND技術(shù)參數(shù):﹡觀察方式:透射/反射/明場(chǎng)/暗場(chǎng)﹡相機(jī):1600萬像素高清彩色相機(jī) Model: Ni
比表面微孔分析儀Surface Area and Porosity Analyzer 型號(hào):日本麥奇科拜爾MicrotracBEL BELSORP-max技術(shù)參數(shù):﹡測(cè)量范圍:比表面0.00
四探針電阻儀ResMap Four Point Probe 型號(hào):美國CDE ResMap 178技術(shù)參數(shù):﹡測(cè)量尺寸:2~8寸晶圓﹡測(cè)量速度:大于49點(diǎn)/分鐘﹡測(cè)量范圍:1mΩ sq-1
接觸角測(cè)量儀Optical Temsiometer型號(hào):瑞典Biolin THETA功能:測(cè)量接觸角、表界面張力和表面自由能。技術(shù)參數(shù):﹡接觸角測(cè)量范圍:0-180°﹡控制:自動(dòng)滴樣單元,高速圖像觀測(cè)
激光粒度分析儀Particle Size Analyzer 型號(hào):美國Microtrac BLUEWAVE S3500技術(shù)參數(shù):﹡測(cè)量范圍:0.01-2000μm﹡測(cè)量時(shí)間:10-30秒﹡兼
DSC-TGA同步熱分析儀Simultaneous Thermal Analysis 型號(hào):德國NETZSCH STA 449F5功能:同步熱分析是指利用一臺(tái)儀器對(duì)同一個(gè)樣品同時(shí)進(jìn)行熱重分析
紫外可見近紅外分光光度計(jì)UV-VIS-NIR Spetrometer 型號(hào):美國Perkin Elmer Lambda 950功能:具有超高紫外/可見/近紅外性能,精度高,適合諸如高反和低反
傅立葉變換紅外光譜儀Fourier-Transform Infrared Spectrometer型號(hào):日本島津IRTracer-100技術(shù)參數(shù):﹡光譜范圍:7800~350cm-1﹡高靈敏度:S/N
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