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電學(xué)探針臺(tái) Probe Station
電學(xué)探針臺(tái)Probe Station 型號(hào)：儀準(zhǔn)PW-800功能：通過(guò)微探針連接到芯片并引出所需信號(hào)，用于電學(xué)特性測(cè)試。技術(shù)參數(shù)：﹡夾盤(pán)尺寸：200mm﹡探針XY電動(dòng)移動(dòng)行程：200mm﹡顯
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半導(dǎo)體參數(shù)分析儀 Semiconductor Parameter Analyzer
半導(dǎo)體參數(shù)分析儀Semiconductor Parameter Analyzer 型號(hào)：美國(guó)Tektronix Keithley 4200A-SCS功能：使用4200A-SCS加快半導(dǎo)體設(shè)備
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工業(yè)顯微鏡 Industrial Microscope
工業(yè)顯微鏡Industrial Microscope 型號(hào)：日本尼康LV100ND技術(shù)參數(shù)：﹡觀察方式：透射/反射/明場(chǎng)/暗場(chǎng)﹡相機(jī)：1600萬(wàn)像素高清彩色相機(jī) Model: Ni
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比表面微孔分析儀 Surface Area and Porosity Analyzer
比表面微孔分析儀Surface Area and Porosity Analyzer 型號(hào)：日本麥奇科拜爾MicrotracBEL BELSORP-max技術(shù)參數(shù)：﹡測(cè)量范圍：比表面0.00
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四探針電阻儀 ResMap Four Point Probe
四探針電阻儀ResMap Four Point Probe 型號(hào)：美國(guó)CDE ResMap 178技術(shù)參數(shù)：﹡測(cè)量尺寸：2~8寸晶圓﹡測(cè)量速度：大于49點(diǎn)/分鐘﹡測(cè)量范圍：1mΩ sq-1
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接觸角測(cè)量?jī)x Optical Temsiometer
接觸角測(cè)量?jī)xOptical Temsiometer型號(hào)：瑞典Biolin THETA功能：測(cè)量接觸角、表界面張力和表面自由能。技術(shù)參數(shù)：﹡接觸角測(cè)量范圍：0-180°﹡控制：自動(dòng)滴樣單元，高速圖像觀測(cè)
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激光粒度分析儀 Particle Size Analyzer
激光粒度分析儀Particle Size Analyzer 型號(hào)：美國(guó)Microtrac BLUEWAVE S3500技術(shù)參數(shù)：﹡測(cè)量范圍：0.01-2000μm﹡測(cè)量時(shí)間：10-30秒﹡兼
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DSC-TGA同步熱分析儀 Simultaneous Thermal Analysis
DSC-TGA同步熱分析儀Simultaneous Thermal Analysis 型號(hào)：德國(guó)NETZSCH STA 449F5功能：同步熱分析是指利用一臺(tái)儀器對(duì)同一個(gè)樣品同時(shí)進(jìn)行熱重分析
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紫外可見(jiàn)近紅外分光光度計(jì) UV-VIS-NIR Spetrometer
紫外可見(jiàn)近紅外分光光度計(jì)UV-VIS-NIR Spetrometer 型號(hào)：美國(guó)Perkin Elmer Lambda 950功能：具有超高紫外/可見(jiàn)/近紅外性能，精度高，適合諸如高反和低反
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傅立葉變換紅外光譜儀 Fourier-Transform Infrared Spectrometer
傅立葉變換紅外光譜儀Fourier-Transform Infrared Spectrometer型號(hào)：日本島津IRTracer-100技術(shù)參數(shù)：﹡光譜范圍：7800~350cm-1﹡高靈敏度：S/N
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