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原子力顯微鏡 Atomic Force Microscope
原子力顯微鏡Atomic Force Microscope 型號(hào)：德國(guó)Bruker Dimension ICON功能：用于表征材料表面形貌特征。技術(shù)參數(shù)：﹡XY方向掃描范圍：90μm×90μ
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拉曼光譜儀 Raman Spectrometer
拉曼光譜儀Raman Spectrometer型號(hào)：日本Horiba LabRAM HR Evolution功能：拉曼是一種光散射現(xiàn)象，光子被物質(zhì)分子或晶格散射后，能量發(fā)生改變，這種改變與能量分子本身
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場(chǎng)發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡 Field-Emission Environmental Scanning Electron Microscope
場(chǎng)發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡Field-Emission Environmental Scanning Electron Microscope型號(hào)：美國(guó)FEI Quattro S功能：用于材料表面、斷面形
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