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電學(xué)探針臺 Probe Station
電學(xué)探針臺Probe Station 型號：儀準(zhǔn)PW-800功能：通過微探針連接到芯片并引出所需信號，用于電學(xué)特性測試。技術(shù)參數(shù)：﹡夾盤尺寸：200mm﹡探針XY電動移動行程：200mm﹡顯
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半導(dǎo)體參數(shù)分析儀 Semiconductor Parameter Analyzer
半導(dǎo)體參數(shù)分析儀Semiconductor Parameter Analyzer 型號：美國Tektronix Keithley 4200A-SCS功能：使用4200A-SCS加快半導(dǎo)體設(shè)備
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工業(yè)顯微鏡 Industrial Microscope
工業(yè)顯微鏡Industrial Microscope 型號：日本尼康LV100ND技術(shù)參數(shù)：﹡觀察方式：透射/反射/明場/暗場﹡相機(jī)：1600萬像素高清彩色相機(jī) Model: Ni
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比表面微孔分析儀 Surface Area and Porosity Analyzer
比表面微孔分析儀Surface Area and Porosity Analyzer 型號：日本麥奇科拜爾MicrotracBEL BELSORP-max技術(shù)參數(shù)：﹡測量范圍：比表面0.00
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四探針電阻儀 ResMap Four Point Probe
四探針電阻儀ResMap Four Point Probe 型號：美國CDE ResMap 178技術(shù)參數(shù)：﹡測量尺寸：2~8寸晶圓﹡測量速度：大于49點(diǎn)/分鐘﹡測量范圍：1mΩ sq-1
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接觸角測量儀 Optical Temsiometer
接觸角測量儀Optical Temsiometer型號：瑞典Biolin THETA功能：測量接觸角、表界面張力和表面自由能。技術(shù)參數(shù)：﹡接觸角測量范圍：0-180°﹡控制：自動滴樣單元，高速圖像觀測
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激光粒度分析儀 Particle Size Analyzer
激光粒度分析儀Particle Size Analyzer 型號：美國Microtrac BLUEWAVE S3500技術(shù)參數(shù)：﹡測量范圍：0.01-2000μm﹡測量時間：10-30秒﹡兼
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DSC-TGA同步熱分析儀 Simultaneous Thermal Analysis
DSC-TGA同步熱分析儀Simultaneous Thermal Analysis 型號：德國NETZSCH STA 449F5功能：同步熱分析是指利用一臺儀器對同一個樣品同時進(jìn)行熱重分析
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紫外可見近紅外分光光度計(jì) UV-VIS-NIR Spetrometer
紫外可見近紅外分光光度計(jì)UV-VIS-NIR Spetrometer 型號：美國Perkin Elmer Lambda 950功能：具有超高紫外/可見/近紅外性能，精度高，適合諸如高反和低反
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傅立葉變換紅外光譜儀 Fourier-Transform Infrared Spectrometer
傅立葉變換紅外光譜儀Fourier-Transform Infrared Spectrometer型號：日本島津IRTracer-100技術(shù)參數(shù)：﹡光譜范圍：7800~350cm-1﹡高靈敏度：S/N
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